UM-1超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-1超声波测厚仪具有zui小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或zui小厚度值；数据存储；报警功能 UM-1技术数据 工作原理 脉冲～回波方式 测量范围 0.8～300mm 取决于所用探头、所测材料、表面状况 单位和显示分辨率 毫米-0.1 英寸-0.01 探头零点校准 一点校准（用于常规的厚度测量） 两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量精度） V路径修正 自动V声程修正，补偿双晶探头的非线性度 示值误差 ±0.1mm （25mm以下） ±0.2% H （100mm以下） ±0.5% H （100mm以上） 注：H为被测物厚度 重复性 ±0.1mm 显示屏 128×64点阵液晶屏（42×57毫米）, 具有EL背光，可调节对比度, 厚度值数字高度可达13.75毫米
测量刷新频率 常规测量时4Hz，zui小值扫查时25Hz 材料声速范围 1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/us 数据存储 划分5个数组，可存储500个厚度值 工作语言 中文、英文 电源 两节1.5VAA电池,当电池电量不足时，有低电压提示 操作时间 两节5号电池，使用时间可达200小时 自动关机 5分钟无操作后自动关机 工作温度 -10℃～+50℃，有特殊要求可达-20℃ 尺寸 149mm×73mm×32mm （H×W×D） 重量 含电池200g 标准配置 UM系列测厚仪 标配探头 仪器箱 两节碱性电池 耦合剂 操作手册 合格证 装箱单 附件 橡胶外套；众多可供选择的探头；校准用阶梯试块；耦合剂及高温耦合剂
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